Chen M., Sager D.(david.sager@mat.ethz.ch), Meier L.P., Gauckler L.J.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, bulk, phase formation, microstructure, films thick, critical current density, fabrication, critical caracteristics
Chen M., Sager D.(david.sager@mat.ethz.ch), Gauckler L.J.
Ключевые слова: HTS, Bi2212, films, precursors, fabrication, microstructure, phase formation, aspect ratios, critical current density, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.